V pondělí 24. listopadu byla na Fakultě stavební ČVUT v Praze za přítomnosti děkana Fakulty stavební ČVUT prof. Jiřího Máci, dalších představitelů akademické obce a zástupců výrobce mikroskopů – firmy Tescan, slavnostně otevřena Laboratoř speciální mikroskopie, která představuje významný krok ve zkvalitňování materiálového výzkumu napříč Českým vysokým učením technickým v Praze.
Laboratoř byla založena v roce 2024 jako pracoviště zastřešující sdílenou Laboratoř SEM-FIB a Laboratoř mikrostrukturních analýz. Zakládajícími členy sdílené laboratoře jsou Fakulta stavební, Fakulta elektrotechnická a Fakulta dopravní ČVUT.
Do provozu zde byl uveden vysokorozlišovací skenovací elektronový mikroskop kombinovaný s Xenon-plazmovým fokusovaným iontovým svazkem Amber X (UHR FE-SEM a Xe Plasma FIB). Jde o první tuzemskou komerční instalaci zařízení tohoto typu, které univerzitě umožní špičkový vědecký výzkum na evropské úrovni. Využíván bude zároveň pro výuku v doktorských programech i odborná školení, čímž posiluje spolupráci mezi zapojenými fakultami a podporuje vzdělávání a vznik multidisciplinárních projektů.
Mikroskop Amber X, jenž je nyní klíčovým přístrojem laboratoře, umožňuje simultánní zobrazování a přesné iontové mletí vzorku díky sladěným ohniskům obou svazků. Současně jsou v mikroskopu dostupné pokročilé materiálové analýzy pro stanovení prvkového a krystalografického složení (EDS a EBSD). Tato kombinace výrazně rozšiřuje možnosti analýz a činí z laboratoře moderní výzkumné centrum odpovídající současným světovým standardům. Laboratoř je určena pro univerzální využití v oblasti vysokorozlišovací elektronové mikroskopie všech anorganických materiálů.
Na Fakultě stavební bude hlavní pozornost jeho využití směřovat ke studiu cementu a dalších stavebních kompozitů, ale také kovů, plastů či dřeva – tedy často porézních, vícefázových a heterogenních struktur, jejichž mikrostrukturní charakterizace je zásadní pro výzkum jejich vlastností. Fakulta elektrotechnická využije přístroj například při studiu mikroelektronických součástek jako jsou čipy.
Samotná Laboratoř SEM-FIB vznikla díky podpoře projektu OP JAK Ph.D. Infra, zaměřeného na rozvoj výuky a excelentních výzkumných aktivit v doktorských materiálově orientovaných programech. Na provozu laboratoře, výzkumných aktivitách i zaškolování nových uživatelů se aktivně podílejí členové spolupracujících pracovišť. Pracovníci a studenti ostatních součástí ČVUT mohou využít přístupu prostřednictvím Správce laboratoře.
Za obsah odpovídá: prof. Ing. Karel Kabele, CSc.
